半導(dǎo)體器件快速溫度變化試驗(yàn)
健明迪檢測(cè)提供的半導(dǎo)體器件快速溫度變化試驗(yàn)，試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T4937.1-2006半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第1部分：總則 GB/T4937.11-2018半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法第11部分：快速，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4937.1-2006 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第1部分：總則
GB/T 4937.11-2018 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第11部分：快速溫度變化 雙液槽法
IEC 60749-11 ：2002 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第11 部分：快速溫度變化 雙液槽法
GB/T 4937.11-2018 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第11部分：快速溫度變化 雙液槽法
IEC 60749-11 ：2002 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第11 部分：快速溫度變化 雙液槽法
試驗(yàn)背景
半導(dǎo)體器件快速溫度變化試驗(yàn)?zāi)康氖菧y(cè)試產(chǎn)品反復(fù)承受溫度極值的耐受力。溫度劇烈變化可能會(huì)導(dǎo)致半導(dǎo)體器件：裝配點(diǎn)或焊接點(diǎn)松動(dòng)或脫落、使材料本身開(kāi)裂、電子元器件性能發(fā)生變化、密封件失效造成泄漏。
健明迪檢測(cè)環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)設(shè)備，具備快速溫度變化試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸榘雽?dǎo)體器件、設(shè)備提供專(zhuān)業(yè)的快速溫度變化試驗(yàn)服務(wù)。
健明迪檢測(cè)環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)設(shè)備，具備快速溫度變化試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸榘雽?dǎo)體器件、設(shè)備提供專(zhuān)業(yè)的快速溫度變化試驗(yàn)服務(wù)。
半導(dǎo)體器件快速溫度變化試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
健明迪檢測(cè)環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)設(shè)備，具備快速溫度變化試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸榘雽?dǎo)體器件、設(shè)備提供專(zhuān)業(yè)的快速溫度變化試驗(yàn)服務(wù)。
試驗(yàn)方式
樣品應(yīng)放于液槽中的合適位置，使液體在樣品中間及周?chē)牧鲃?dòng)不受到阻礙。然后根據(jù)規(guī)定，使負(fù)載按規(guī)定的試驗(yàn)條件進(jìn)行15次循環(huán)（對(duì)于模擬清洗應(yīng)進(jìn)行10次循環(huán)）。
為了進(jìn)行器件批的加載或去載，或由于電源或設(shè)備故障，允許中斷試驗(yàn)。然而，對(duì)任何給定的試驗(yàn)，若中斷次數(shù)超過(guò)規(guī)定循環(huán)總次數(shù)的10% ，試驗(yàn)應(yīng)重新開(kāi)始。
為了進(jìn)行器件批的加載或去載，或由于電源或設(shè)備故障，允許中斷試驗(yàn)。然而，對(duì)任何給定的試驗(yàn)，若中斷次數(shù)超過(guò)規(guī)定循環(huán)總次數(shù)的10% ，試驗(yàn)應(yīng)重新開(kāi)始。
