光纖氫老化試驗

1、試驗條件 按規(guī)定設置試驗環(huán)境氫分壓、溫度和試樣放置時間。
2、衰減系數(shù)的測量
1）基準方法
2）替代方法
3、預處理 如有要求，試樣應按照詳細規(guī)范進行預處理。

鋪設多年的光纜，其光纖損耗有了大幅度的增加，這可是由于氫氣滲入光纖，與玻璃體發(fā)生作用，產生附加吸收損耗，俗稱“氫損”的緣故。光纖產品氫老化試驗可測量光纖的氫損效應，評價光纖的環(huán)境性能。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光纖的環(huán)境試驗能力，為光纖產品提供專業(yè)的氫老化試驗服務。

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GB/T 15972.55 -2008光纖試驗方法規(guī)范第55部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗程序 氫老化
IEC60793-2-50：2008 光纖 第2-50部分：產品規(guī)范 B類單模光纖分規(guī)范
GB/T9771.3-2008通信用單模光纖 第3部分：波長段擴展的非色散位移單模光纖特性
GB/T 15972.10-2008光纖試驗方法規(guī)范 第10部分：測量方法和試驗程序 總則
GB/T 15972.40-2008光纖試驗方法規(guī)范 第40部分：傳輸特性和光學特性的測量方法和試驗程序 衰減

Bl.3類波長段擴展的非色散位移單模光纖、B4類單模光纖等光纖產品。