電工電子產(chǎn)品可焊性試驗(yàn)
健明迪檢測提供的電工電子產(chǎn)品可焊性試驗(yàn)，試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) GB/T2424.17-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)T：錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則 GB/T2423.28-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2424.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)T：錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)T：錫焊
GB/T 2423.32-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ta：潤濕稱量法可焊性
IEC 60068-2-20：1987基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第二部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)T：錫焊
GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)T：錫焊
GB/T 2423.32-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ta：潤濕稱量法可焊性
IEC 60068-2-20：1987基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第二部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)T：錫焊
試驗(yàn)背景
電子產(chǎn)品的組裝焊接過程中，對電路板、元件可焊端或錫膏，助焊劑質(zhì)量的不良選擇就會(huì)造成焊接問題，直接影響到產(chǎn)品的質(zhì)量。主要的焊接問題包括不良的潤濕、橋接、裂紋等，會(huì)增加質(zhì)量控制工作量和產(chǎn)生大量的維修，造成人力和財(cái)力的浪費(fèi)，如假焊、虛焊和焊接強(qiáng)度差等，將直接導(dǎo)致可靠性問題。
電子電工產(chǎn)品可焊性試驗(yàn)是確定元器件引出端和印制電路易于潤濕的能力以及檢查元器件本身在裝配焊接過程中不致?lián)p傷的能力。
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸殡姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的可焊性試驗(yàn)服務(wù)。
電子電工產(chǎn)品可焊性試驗(yàn)是確定元器件引出端和印制電路易于潤濕的能力以及檢查元器件本身在裝配焊接過程中不致?lián)p傷的能力。
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸殡姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的可焊性試驗(yàn)服務(wù)。
電工電子產(chǎn)品可焊性試驗(yàn)機(jī)構(gòu)
健明迪檢測可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸殡姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的可焊性試驗(yàn)服務(wù)。
試驗(yàn)條件
1、試驗(yàn)Ta導(dǎo)線和引出端的可焊性 確定導(dǎo)線和引出端上需要被焊料潤濕區(qū)域的潤濕性。若有要求的話，還要確定弱潤濕。
2、試驗(yàn)Tb元器件耐焊接熱的能力 確定試驗(yàn)樣品承受由焊接產(chǎn)生的熱應(yīng)力的能力。
3、試驗(yàn)Tc印制板和覆銅箔層壓板的可焊性 確定在下列物品上要求可焊的區(qū)域的可焊性，并包括弱潤濕試驗(yàn)程序。
a）單面或雙面覆銅箔層壓板；
b）帶或不帶金屬化孔的單面或雙面印制電路板；
c）多層印制電路板。
2、試驗(yàn)Tb元器件耐焊接熱的能力 確定試驗(yàn)樣品承受由焊接產(chǎn)生的熱應(yīng)力的能力。
3、試驗(yàn)Tc印制板和覆銅箔層壓板的可焊性 確定在下列物品上要求可焊的區(qū)域的可焊性，并包括弱潤濕試驗(yàn)程序。
a）單面或雙面覆銅箔層壓板；
b）帶或不帶金屬化孔的單面或雙面印制電路板；
c）多層印制電路板。
