半導體器件外部易燃性試驗

GB/T 4937.32 半導體器件機械和氣候試驗方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）
IEC 60749- 32： 2010半導體器件機械和氣候試驗方法 第32部分：塑封器件的易燃性（外部引起的）
IEC 60695-11-5：2004著火危險試驗-第11-5部分：試驗火焰針焰試驗方法裝置、確認試驗方法和導則
GB/T 4937.1-2006 半導體器件機械和氣候試驗方法 第1部分：總則

半導體器件外部易燃性試驗的目的是確定器件是否由于外部發(fā)熱造成燃燒。健明迪檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種半導體器件機械和氣候試驗設(shè)備，具備外部易燃性試驗能力，為半導體器件、設(shè)備提供專業(yè)的外部易燃性試驗服務。

健明迪檢測環(huán)境可靠性實驗中心擁有各種半導體器件機械和氣候試驗設(shè)備，具備外部易燃性試驗能力，為半導體器件、設(shè)備提供專業(yè)的外部易燃性試驗服務。

本試驗應符合針焰試驗，要求如下：
a） 預處理：無；
b） 試驗樣品數(shù)：三只，除相關(guān)文件另有規(guī)定外；
c） 樣品位置；
d） 受試表面和適用點；
e）下面墊層：松木上加紙；
f）火焰持續(xù) 施加時間： 10s；
g） 持續(xù)燃燒時間：10s；
h）燃燒范圍：不能顯著超出接觸火焰的面積。