紅外熱像儀環(huán)境試驗(yàn)有哪些 環(huán)境試驗(yàn)?zāi)康氖鞘裁?/h1>
公司簡介
健明迪檢測提供的紅外熱像儀環(huán)境試驗(yàn)有哪些 環(huán)境試驗(yàn)?zāi)康氖鞘裁矗t外熱像儀震動與沖擊測試 目的在于模擬震動和沖擊環(huán)境下，測試機(jī)芯的結(jié)構(gòu)、鏡頭性能，以及成像的質(zhì)量，具有CMA,CNAS認(rèn)證資質(zhì)。
紅外熱像儀震動與沖擊測試
目的在于模擬震動和沖擊環(huán)境下，測試機(jī)芯的結(jié)構(gòu)、鏡頭性能，以及成像的質(zhì)量。
測試過程一般為，震動測試設(shè)置對應(yīng)的頻率與振幅、震動時間，沖擊測試設(shè)置對應(yīng)的頻率與加速度、沖擊次數(shù)。細(xì)節(jié)都需要依照國家行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
測試中機(jī)芯保持工作狀態(tài)，著重觀察圖像是否有橫紋波動、干擾現(xiàn)象。震動或沖擊之后檢查結(jié)構(gòu)、鏡頭狀況，例如通過搖晃機(jī)芯判斷是否有零件脫落。
對于其他相關(guān)問題，請點(diǎn)擊右側(cè)在線咨詢，健明迪檢測客服將為您分配對應(yīng)工程師，為您提供更專業(yè)的咨詢。
紅外熱像儀溫度循環(huán)測試
目的在于測試機(jī)芯對于環(huán)境溫度變化的適應(yīng)性。
與高低溫測試不同的是，整個測試過程機(jī)芯一直處于工作狀態(tài)，且會對于某些參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)持續(xù)的測量。
測試過程一般為：從室溫升到最高溫（典型值80℃），保溫一段時間（典型值2h），降溫到最低溫（典型值-40℃），保溫一段時間（典型值2h），升到室溫。如此反復(fù)。在過程中隨時觀察功耗、探測器均值、圖像條紋、噪聲。測試需要依照相應(yīng)的國家行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
在機(jī)芯處于不同環(huán)境溫度中時，需要使機(jī)芯看室溫的場景（區(qū)分環(huán)境溫度與場景溫度）。此時重點(diǎn)關(guān)注探測器均值。即所有像素點(diǎn)灰度的平均值。若探測器是14bit輸出，則均值上限為16383 。在室溫下做OOC矯正，若OOC目標(biāo)值是7000，探測器響應(yīng)率為70K^(-1)，此時探測器可探測的場景溫度范圍大約在-80℃到150℃。
紅外熱像儀高低溫測試
目的在于測試紅外熱像儀（機(jī)芯）在極端溫度環(huán)境下的電路、程序、結(jié)構(gòu)性能以及功耗。電路部分主要考量芯片和電路設(shè)計(jì)在極端溫度下的表現(xiàn)，程序部分主要考量機(jī)芯功能（例如快門矯正）是否正常，結(jié)構(gòu)部分主要基于不同組件膨脹系數(shù)差異、鏡頭無熱化設(shè)計(jì)質(zhì)量的考量，功耗用于計(jì)算電路電流（電壓恒定），從而通過電路和芯片額定電流指導(dǎo)機(jī)芯設(shè)計(jì)優(yōu)化。
典型低溫值為-40℃，典型高溫值為80℃。測試過程一般為：將環(huán)境控溫到目標(biāo)溫度；恒溫兩小時；開機(jī)工作兩小時；觀察。觀察內(nèi)容一般包括：圖像條紋、噪聲、探測器均值、功耗。測試需要依照國家行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
紅外熱像儀是一種利用紅外線輻射而拍攝的攝像儀,熱成像顯示系統(tǒng)是一種處理熱信息的微機(jī)處理系統(tǒng)。紅外熱像儀環(huán)境試驗(yàn)有哪些？紅外熱像儀環(huán)境試驗(yàn)?zāi)康氖鞘裁矗?
目的在于模擬震動和沖擊環(huán)境下，測試機(jī)芯的結(jié)構(gòu)、鏡頭性能，以及成像的質(zhì)量。
測試過程一般為，震動測試設(shè)置對應(yīng)的頻率與振幅、震動時間，沖擊測試設(shè)置對應(yīng)的頻率與加速度、沖擊次數(shù)。細(xì)節(jié)都需要依照國家行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
測試中機(jī)芯保持工作狀態(tài)，著重觀察圖像是否有橫紋波動、干擾現(xiàn)象。震動或沖擊之后檢查結(jié)構(gòu)、鏡頭狀況，例如通過搖晃機(jī)芯判斷是否有零件脫落。
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紅外熱像儀溫度循環(huán)測試
目的在于測試機(jī)芯對于環(huán)境溫度變化的適應(yīng)性。
與高低溫測試不同的是，整個測試過程機(jī)芯一直處于工作狀態(tài)，且會對于某些參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)持續(xù)的測量。
測試過程一般為：從室溫升到最高溫（典型值80℃），保溫一段時間（典型值2h），降溫到最低溫（典型值-40℃），保溫一段時間（典型值2h），升到室溫。如此反復(fù)。在過程中隨時觀察功耗、探測器均值、圖像條紋、噪聲。測試需要依照相應(yīng)的國家行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
在機(jī)芯處于不同環(huán)境溫度中時，需要使機(jī)芯看室溫的場景（區(qū)分環(huán)境溫度與場景溫度）。此時重點(diǎn)關(guān)注探測器均值。即所有像素點(diǎn)灰度的平均值。若探測器是14bit輸出，則均值上限為16383 。在室溫下做OOC矯正，若OOC目標(biāo)值是7000，探測器響應(yīng)率為70K^(-1)，此時探測器可探測的場景溫度范圍大約在-80℃到150℃。
紅外熱像儀高低溫測試
目的在于測試紅外熱像儀（機(jī)芯）在極端溫度環(huán)境下的電路、程序、結(jié)構(gòu)性能以及功耗。電路部分主要考量芯片和電路設(shè)計(jì)在極端溫度下的表現(xiàn)，程序部分主要考量機(jī)芯功能（例如快門矯正）是否正常，結(jié)構(gòu)部分主要基于不同組件膨脹系數(shù)差異、鏡頭無熱化設(shè)計(jì)質(zhì)量的考量，功耗用于計(jì)算電路電流（電壓恒定），從而通過電路和芯片額定電流指導(dǎo)機(jī)芯設(shè)計(jì)優(yōu)化。
典型低溫值為-40℃，典型高溫值為80℃。測試過程一般為：將環(huán)境控溫到目標(biāo)溫度；恒溫兩小時；開機(jī)工作兩小時；觀察。觀察內(nèi)容一般包括：圖像條紋、噪聲、探測器均值、功耗。測試需要依照國家行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
紅外熱像儀是一種利用紅外線輻射而拍攝的攝像儀,熱成像顯示系統(tǒng)是一種處理熱信息的微機(jī)處理系統(tǒng)。紅外熱像儀環(huán)境試驗(yàn)有哪些？紅外熱像儀環(huán)境試驗(yàn)?zāi)康氖鞘裁矗?
