電工電子產(chǎn)品檢測
檢測標準
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方法試驗A.溫 GB/T 2423.1-2008
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗 GJB 150.4A-2009
軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法低溫試驗 GJB 150.4-1986
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方法試驗B：高溫 GB/T 2423.2-2008
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗 GJB 150.3A-2009
軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法高溫試驗 GJB 150.3-1986
環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2016
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱(12h+12h循環(huán)) GB/T 2423.4-2008
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗 GJB 150.9A-2009
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊 GB/T 2423.5-2019
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第18部分：沖擊試驗 GJB 150.18A-2009程序IⅡ、程序Ⅲ
軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法沖擊試驗 GJB 150.18-1986試驗V
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞 GB/T 2423.6-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部份：試驗方法試驗Fc：振動(正弦) GB/T 2423.10-2019
環(huán)境試驗第2部份：試驗方法試驗Fh：寬帶隨機振動和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2018
軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第16部分：振動試驗 GJB 150.16A-2009程序I、Ⅳ
檢測項目
低溫，高溫，濕熱，沖擊，碰撞，振動，恒定加速度，低氣壓，溫度變化，溫度-高度，熱真空，環(huán)境應(yīng)力篩選，溫度-濕度-振動
檢測周期：7-15個工作日，試驗可加急
